信頼性
富士通の法人パソコンにはパソコンの安全性を高めるセキュリティ機能が豊富に用意されています。使用環境や業務内容に応じて、最適なセキュリティ対策を施すことが可能です。
LIFEBOOK
国内最大級の島根工場にて一貫生産を実施
国内最大級のノートパソコン工場でプリント板から製品本体まで一貫製造を実施しています。
目視確認・手作業も多く、キメこまやかな作業が製品の品質を支えています。
信頼性を追求した、こだわりの堅牢設計
企業向けノートパソコンへの長年の取り組みによるノウハウと最新の技術により、ビジネスパソコンに求められる高い品質を追求しています。
液晶
液晶パネルの保護
液晶バックカバー(天板)には薄型、軽量ながらも頑丈なマグネシウム合金を使用することで、外圧からの液晶パネル割れを保護します。
温度設計
空気の流れを考慮
一番の熱源となるCPU、チップセット、メモリの効率的な放熱を可能にしました。〔全機種対応〕
コネクター
DC-INコネクターの凹化
ACアダプター端子周辺部分を凹形状にし、端子の破損を防止します。〔Aシリーズで対応〕
冷却
冷却用通風路のホコリ詰まり防止
冷却用のファンにつながる通風路にホコリが詰まると、パソコンが異常発熱や動作不安定を起こす原因となります。これを防ぐために、ホコリの詰まりを簡単にメンテナンスできるダストカバー構造を採用しています。また、CPU発熱と冷却用ファンの状態を検知するソフトウェアをプリインストールし、異常時には点検を促します。〔Aシリーズで対応〕
堅牢性を実現するための厳しい試験を実施
製品評価試験
様々な項目について当社独自の厳しい評価基準で試験を実施しています。(注)
(注)本試験は製品の品質を評価するためのものであり、落下・加圧などによる無破損・無故障を保証するものではありません。
実施内容
- 落下:本体を落下させ、本体強度のチェックを行います。
- 衝撃:本体に衝撃をあたえ、動作のチェックを行います。
- 振動:自動車や電車での移動・輸送時に加わる振動を想定し、本体に振動をあたえ、動作のチェックを行います。
- 繰返荷重:一定の荷重を繰り返し加えることにより、装置実装状態での各種部品への影響を確認します。
- コネクター抜き挿し / 引張:ACアダプター、USB、PCカードなどの各種インターフェースに対し、コネクター挿抜の繰り返しや、大きな力で引っ張るといった試験を行い、強度のチェックを行います。
- 動作時の転倒:装置動作中に誤って転倒させた場合を想定し、ストレージ等への影響を確認します。
- 表示部開閉:液晶ディスプレイの開閉動作を繰り返し、各種部品への影響を確認します。
製品評価試験
落下・振動・開閉の繰り返しなど様々な項目を独自の厳しい評価基準でチェックしています。
U9シリーズ 製品評価試験
採用部品や本体ボディは豊富なノウハウと最新の技術を組み合わせて細部まで作り込み、評価をし、信頼性を高めています。
指紋センサー等各種センサーへの繰返荷重試験
一定の荷重を繰り返し加えることにより、装置実装状態での各種部品への影響を確認します。
コネクター抜き挿し/引張試験
コネクター部の耐久性を確認するため、 Type-C ACアダプター、USBなどの各種インターフェースに対し、コネクター挿抜の繰り返しや、大きな力で引っ張るといった試験を行い、強度のチェックを行います。
衝撃試験
本体に衝撃をあたえ、動作のチェックを行います。
転倒試験(動作時)
装置動作中に誤って転倒させた場合を想定し、ストレージ等への影響を確認します。
表示部開閉試験
液晶ディスプレイの開閉動作を繰り返し、破損などがないか、耐久性のチェックを行います。
MIL-STD-810H試験
(U9313X/N、U9313/N、U9413/N、U5313X/N、U6313/N、U7313/N、U7413/N、U7613/N)
アメリカ国防総省が規定する米軍採用規格(Military Specifications and Standards)試験です。
(注)本テストはデータの保全を確認するものであり、装置本体の機能・性能を保証するものではありません。
ARROWS Tab
堅牢性を実現するための厳しい試験を実施
モバイル利用、屋外/生産現場などタブレットはより厳しい環境での使用が求められます。
富士通では、そのような様々な利用シーンにも耐えうる堅牢性を実現するために、厳しい試験を実施しています。
製品評価試験
(Q7312/NE・NB、Q5011/NE・NB)
様々な項目について当社独自の厳しい評価基準で試験を実施しています。(注)
(注)本試験は製品の品質を評価するためのものであり、落下・加圧などによる無破損・無故障を保証するものではありません。
実施内容
- 落下:76cmより落下。(注)標準モデルのみ。
手から滑り落ちた、机から落としたなどの誤った落下を想定した試験。 - 衝撃:装置のXYZ方向に対し、衝撃試験を実施。
持ち歩いている際に壁にぶつけたなどの装置に加わる衝撃を想定した試験。 - 振動:装置のXYZ方向に対し、動作時・停止時と2種類の条件を実施。
自動車や電車での移動・輸送時に加わる振動を想定した試験。 - 1点加圧:前面・背面に荷重:35.7kgfで加圧で実施。
表示部に手や肘をついてしまったなどの局部的な負荷を想定した試験。 - 全面加圧:装置全体に200kgfの加圧で実施。
鞄の中に入れた時に押されたなどの装置全体に加わる負荷を想定した試験。
MIL-STD-810H試験
(Q7312/NE・NB、Q5011/NE・NB)
アメリカ国防総省が規定する米軍採用規格(Military Specifications and Standards)試験です。
富士通では第3者機関に委託し、右記のテストを実施しています。
(注)本テストはデータの保全を確認するものであり、装置本体の機能・性能を保証するものではありません。
実施内容
- 振動:車両による1,600kmの陸上輸送に相当する振動を与える。
- 落下:122cm(注1)の高さから、18方向(各面、角、辺)の合板上に落下させる。
(注1):Q7312/NE・NBは高さ91cmからの落下です。
[注]:本テストはデータの保全を確認するものであり、装置本体の無破損を保証するものではありません。 - 衝撃:1軸1方向あたり3回(合計18回)の衝撃を与える。
- 粉塵:防塵試験用粉塵の中に6時間さらす。
- 湿度:湿度95%の環境に10日間さらす。
- 高度:高度4,570mでの操作を再現する。
- 高温:動作時50℃、非動作時70℃の高温環境にさらす。
- 低温:動作時マイナス20℃、非動作時マイナス30℃の低温環境にさらす。
防水 / 防塵 / 耐薬品試験
(Q7312/NE・NB(注3)、Q5011/NE・NB(注1)(注2))
屋外/生産現場などより厳しい環境での使用にも耐えうる各基準に沿った試験です。
(注1)訪問修理対応モデルの防水機能はIPX4相当となります。
(注2)耐薬品機能はカスタムメイドです。
(注3)Q7312/NE・NBは防水試験IPX2相当のみ実施。
実施内容
- 防水:
- 散水装置を用い、各散水口あたり10ℓ/minの水量で、あらゆる角度から最低10分間散水。(IPX4相当)
- 内径6.3mmの注水ノズルを使用し、約3mの距離から12.5ℓ/分の水を最低3分間注水する条件であらゆる方向から噴流を照射。(IPX5相当)
- 常温で水道水の水深1.5mのところに沈め、約30分間放置。(IPX8相当)
- Q5011/NE・NBはプール水(塩素濃度0.4~1.0mg/L)での防水試験を実施。
- 防塵試験:粉塵にタルクを使用し、器具の内圧を大気圧よりも2kPa減圧した状態で8時間試験を行う。(IP5X相当)
- 耐薬品試験:使用薬品を含ませた布を装置で拭きます。
使用薬品:1.IPA(イソプロピルアルコール)(99.7%) 2.エタノール(99.5%) 3.次亜塩素酸ナトリウム(1.0%)
[注]機能・性能を保証するものではありません。
ESPRIMO
信頼性を追求した、こだわりの堅牢設計
厳しい品質管理で、高い信頼性を実現します。
24時間モデル対応モデル:G6012/N、D7012/Nのみ
長寿命部品の採用
- 24時間モデル専用フラッシュメモリドライブ:発熱量の少ない24時間対応の専用フラッシュメモリディスクを採用。冷却効率の向上により、フラッシュメモリディスクの動作環境改善を図り、長寿命化を実現。
- ファン:CPUのファンに信頼性の高いベアリングを使用し、さらにCPUの冷却効率が高まる構造とすることにより、長寿命化を実現。
- 電源:アルミ電解
専用アプリケーション「お手入れナビ/RAS Utility」
PCの定期的なお手入れを促したり、CPU発熱と冷却用ファンの状態を検知するアプリケーションをプリインストール。異常時には、画面右下にあるタスクトレイアイコンが点滅して、お手入れを促します。
無停電電源装置(注)
- 停電時は自動的にバッテリー電源に切り替わります。
- 異常電圧を補正する機能により、パソコンの損傷やデータの破壊を防ぎます。
- 無人運転を行うシステムでは、問題発生時の無人対応が重要課題です。電源管理ソフトウェアを使用すれば、メールで管理者に通知できます。
- スケジュール設定により、法定点検時のシステムの無人停止にも対応できます。
(注)別途無停電電源装置(FMUP-204)のご購入が必要です。
RAID1(ミラーリング)対応モデル:D9012/N(注)、D7012/N(注)のみ
NVMe-RAIDカードの使用
RAID1(ミラーリング)に対応しているストレージを2台搭載し、同時に同一データを書き込むことで、万一、片方のストレージが破損した場合でも、もう一方のストレージからデータの読み出しが可能。ストレージの故障によるダウンタイムを最小限に抑えることができます。また、本RAIDカードはパトロールベリファイ機能を持っており、ユーザーが意識することなく定期的(カスタマイズ可能)にベリファイが実施され、読取りエラーを検出するとエラーが発生した箇所にもう一方のディスクの内容を書き込むことにより、データを自動修復します。
(注)標準モデル、24時間モデルのみ対応。
その他
部品採用のこだわり
部品の採用段階から厳しい評価を行い、最良の部品を厳選しています。
高電圧/高エネルギーとなる電源部については、部品故障を想定したテストを行っています
安定稼働への配慮
装置の熱流体解析を行い、装置内部の高発熱ユニットの放熱について設計段階から配慮しています。
さらに、接合部品(メモリ/内蔵カード/内蔵記憶装置など)には接触抵抗や異種金属接合の影響を最小限に抑えるコネクター(金メッキ/同質素材)を採用し、抜け防止や誤挿入防止機構も取り入れています。
使用環境への配慮
ESPRIMOシリーズは電磁妨害波規格VCCI(一般財団法人 VCCI協会)に適合し、国際安全規格IEC62368-1(注)に準拠しています。
また、オフィスへの設置に配慮した静音設計を行い、さらに非梱包状態での振動試験を行うなど使用環境にも配慮しています。
(注)ESPRIMOのヘルスケアモデル、24時間/ヘルスケアモデルのみ認定を取得しています。
堅牢性を実現するための高負荷環境下でのシステム試験を実施
システム試験
高電圧/低電圧のAC電圧変動やカタログ仕様での保証温度を超えた温度環境下といった高負荷環境下でのシステム試験を行っています。
実施内容
- 電磁妨害波:動作中に発生する電波を正確に測定し、基準に適合する装置を開発します。
- 無線性能・ノイズ測定:無線LANなどの性能を確認し、また、通信を阻害する電波が出ていないか、周囲環境への影響が無いかを確認します。
- 装置単体振動:動作・非動作状態でそれぞれ振動影響の評価を実施します。
- コネクタ挿抜耐久:すべてのコネクタに対し、日々の利用に耐える信頼性があるか検証します。
- 低温/高温環境稼働:カタログ仕様での保証温度を超えた低温/高温環境下でシステム試験を実施します。
CELSIUS
高レベルの信頼性を実現
RAID1による信頼性向上
NVMe-RAIDカードを使用し、RAID1(ミラーリング)に対応しているストレージを2台搭載し、同時に同一データを書き込むことで、万一、片方のストレージが破損した場合でも、もう一方のストレージからデータの読み出しが可能。ストレージの故障によるダウンタイムを最小限に抑えることができます。また当社は、ソフトウェアRAIDに比べて、ストレージへの読み書き速度に優れたハードRAIDを採用しています。(W5012のみ)
RAS(注)機能の向上
ECCメモリを搭載し、エラー発生時にはデータを修復します。またファン回転状況や内部温度を監視します。
(注)RAS:Reliability(信頼性)、Availability(可用性)、Serviceability(保守性)
デスクトップ:高信頼性を追求した取り組み
安全/高信頼の部品採用
安全、高信頼の実現に向け、部品の採用段階から厳しい評価を行い、最良の部品を厳選しています。
高電圧/高エネルギーとなる電源部については、部品故障を想定したテストを行い安全/高信頼を実現するよう部品採用を行っています。
安定稼働への配慮
装置の安定稼働のために熱流体解析を行い、装置内部の高発熱ユニットの放熱について設計段階から配慮しています。
さらに、接合部品(メモリ/内蔵記憶装置など)には接触抵抗や異種金属接合の影響を最小限に抑えるコネクター(金メッキ/同質素材)を採用し、抜け防止や誤挿入防止機構も取り入れ、安定稼働を実現しています。
使用環境への配慮
CELSIUSシリーズは電磁妨害波規格VCCI( 一般財団法人 VCCI協会)に適合しています。
また、オフィスへの設置に配慮した静音設計を行い、さらに非梱包状態での振動試験を行うなど使用環境にも配慮しています。
システム試験
高電圧/低電圧のAC電圧変動やカタログ仕様での保証温度を超えた温度環境下といった高負荷環境下でのシステム試験を行っています。
モバイル:信頼性を追求した、こだわりの堅牢設計
採用部品や本体ボディは豊富なノウハウと最新の技術を組み合わせて細部まで作り込み、評価をしています。
液晶
液晶パネルの保護
液晶バックカバー(天板)には薄型、軽量ながらも頑丈なマグネシウム合金を使用することで、外圧からの液晶パネル割れを保護します。
※この試験は、加圧による無破損・無故障を保証するものではありません。
冷却
冷却用通風路のホコリ詰まり防止
冷却用のファンにつながる通風路にホコリが詰まると、パソコンが異常発熱や動作不安定を起こす原因となります。これを防ぐために、ホコリの詰まりを簡単にメンテナンスできるダストカバー構造を採用しています。また、CPU発熱と冷却用ファンの状態を検知するソフトウェア(お手入れナビ)をバンドルし、異常時には点検を促します。
温度設計
空気の流れを考慮した温度設計〔全機種対応〕
一番の熱源となるCPU、チップセット、メモリの効率的な放熱を可能にしました。
コネクター
DC-INコネクターの凹化
ACアダプター端子周辺部分を凹形状にし、端子の破損を防止します。
製品評価試験
様々な項目について当社独自の厳しい評価基準で試験を実施しています。(注)
(注)本試験は製品の品質を評価するためのものであり、落下・加圧などによる無破損・無故障を保証するものではありません。
実施内容
- 落下:本体を落下させ、本体強度のチェックを行います。
- 衝撃:本体に衝撃をあたえ、動作のチェックを行います。
- 振動:自動車や電車での移動・輸送時に加わる振動を想定し、本体に振動をあたえ、動作のチェックを行います。
- 繰返荷重:一定の荷重を繰り返し加えることにより、装置実装状態での各種部品への影響を確認します。
- コネクター抜き挿し / 引張:ACアダプター、USB、PCカードなどの各種インターフェースに対し、コネクター挿抜の繰り返しや、大きな力で引っ張るといった試験を行い、強度のチェックを行います。
- 動作時の転倒:装置動作中に誤って転倒させた場合を想定し、ストレージ等への影響を確認します。
- 表示部開閉:液晶ディスプレイの開閉動作を繰り返し、各種部品への影響を確認します。
MIL-STD-810H試験
(H7613、U7413)
アメリカ国防総省が規定する米軍採用規格(Military Specifications and Standards)試験です。
(注)本テストはデータの保全を確認するものであり、装置本体の機能・性能を保証するものではありません。
FUTRO
モバイル:信頼性を追求した、こだわりの堅牢設計
採用部品や本体ボディは豊富なノウハウと最新の技術を組み合わせて細部まで作り込み、評価をしています。
液晶
液晶パネルの保護
液晶バックカバー(天板)には薄型、軽量ながらも頑丈なマグネシウム合金を使用することで、外圧からの液晶パネル割れを保護します。
※この試験は、加圧による無破損・無故障を保証するものではありません。
冷却
冷却用通風路のホコリ詰まり防止
冷却用のファンにつながる通風路にホコリが詰まると、パソコンが異常発熱や動作不安定を起こす原因となります。これを防ぐために、ホコリの詰まりを簡単にメンテナンスできるダストカバー構造を採用しています。
温度設計
空気の流れを考慮した温度設計〔全機種対応〕
一番の熱源となるCPU、チップセット、メモリの効率的な放熱を可能にしました。
コネクター
DC-INコネクターの凹化
ACアダプター端子周辺部分を凹形状にし、端子の破損を防止します。
製品評価試験
様々な項目について当社独自の厳しい評価基準で試験を実施しています。(注)
(注)本試験は製品の品質を評価するためのものであり、落下・加圧などによる無破損・無故障を保証するものではありません。
実施内容
- 落下:本体を落下させ、本体強度のチェックを行います。
- 衝撃:本体に衝撃をあたえ、動作のチェックを行います。
- 振動:自動車や電車での移動・輸送時に加わる振動を想定し、本体に振動をあたえ、動作のチェックを行います。
- 繰返荷重:一定の荷重を繰り返し加えることにより、装置実装状態での各種部品への影響を確認します。
- コネクター抜き挿し / 引張:ACアダプター、USB、PCカードなどの各種インターフェースに対し、コネクター挿抜の繰り返しや、大きな力で引っ張るといった試験を行い、強度のチェックを行います。
- 動作時の転倒:装置動作中に誤って転倒させた場合を想定し、ストレージ等への影響を確認します。
- 表示部開閉:液晶ディスプレイの開閉動作を繰り返し、各種部品への影響を確認します。
MIL-STD-810H試験
(U9313M)
アメリカ国防総省が規定する米軍採用規格(Military Specifications and Standards)試験です。
(注)本テストはデータの保全を確認するものであり、装置本体の機能・性能を保証するものではありません。
デスクトップ:高信頼性を追求した取り組み
安全/高信頼の部品採用
安全、高信頼の実現に向け、部品の採用段階から厳しい評価を行い、最良の部品を厳選しています。
高電圧/高エネルギーとなる電源部については、部品故障を想定したテストを行い安全/高信頼を実現するよう部品採用を行っています。
安定稼働への配慮
装置の安定稼働のために熱流体解析を行い、装置内部の高発熱ユニットの放熱について設計段階から配慮しています。
さらに、接合部品(メモリ/内蔵記憶装置など)には接触抵抗や異種金属接合の影響を最小限に抑えるコネクター(金メッキ/同質素材)を採用し、抜け防止や誤挿入防止機構も取り入れ、安定稼働を実現しています。
使用環境への配慮
FUTROシリーズは電磁妨害波規格VCCI(一般財団法人 VCCI協会)に適合しています。
また、オフィスへの設置に配慮した静音設計を行い、さらに非梱包状態での振動試験を行うなど使用環境にも配慮しています。
システム試験
高電圧/低電圧のAC電圧変動やカタログ仕様での保証温度を超えた温度環境下といった高負荷環境下でのシステム試験を行っています。
ロングライフ
高信頼・安定稼働を支える技術、取り組み
長寿命
長寿命ストレージ
高信頼な24時間連続稼動仕様のストレージを全モデルで採用。約5年の長寿命化を実現しました。
長寿命電源
アルミ電解コンデンサ及び冷却ファンに長寿命品を採用した専用電源を搭載。医療機器電波規格(注)の瞬断規格(60%低下100ms)にも耐え得る設計。電圧・周波数変動、電源ノイズなどにも対応。電源電圧のワイドレンジ対応により、AC100V~120V/200V~240Vをサポートします。
(注)N5510/FAはJIS T0601-1-2:2018(IEC60601-1-2:2014)、J5510/FAはJIS T0601-1-2:2018に対応しています。
強力な冷却ファン
過酷な環境(高温、連続運転)下で使用されることを前提に、強力・長寿命ファンを採用。強力な空冷ファンで筐体内温度を抑える設計により、長時間連続運転と長寿命化を実現しました。
高信頼への取り組み
防塵対策
防塵フィルターを標準装備しているので、製造現場や社会・公共分野における過酷な利用環境に対応します。
(注)J5510/FAはフィルター添付。
優れた保守性
本体前面から容易にストレージの交換ができるフロントアクセス機構を標準装備し、優れた保守性を実現しています。
安定稼働への配慮
装置の安定稼働のために熱流体解析を行い、装置内部の高発熱ユニットの放熱について設計段階から配慮しています。
さらに、接合部品(メモリ/内蔵記憶装置など)には接触抵抗や異種金属接合の影響を最小限に抑えるコネクター(金メッキ/同質素材)を採用し、抜け防止や誤挿入防止機構も取り入れ、安定稼働を実現しています。
使用環境への配慮
ESPRIMOロングライフシリーズは電磁妨害波規格VCCI(一般財団法人 VCCI協会)に適合しています。
また、オフィスへの設置に配慮した静音設計を行い、さらに非梱包状態での振動試験を行うなど使用環境にも配慮しています。
システム試験
高電圧/低電圧のAC電圧変動やカタログ仕様での保証温度を超えた温度環境下といった高負荷環境下でのシステム試験を行っています。