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チップ・サイズ・パッケージ

Stacked-FBGA

パッケージの写真

特徴

システムLSIへの道を開く、スタックドマルチチップパッケージです。

  • メモリの大容量化に対応可能。
  • 1パッケージに複数のチップを積み重ね。
  • 実装面積の縮小化やシステムの高性能化に対応。

断面構造図

 WS-MCP Type
WS-MCPタイプの断面構造図
 FWS-MCP Type
FWS-MCPの断面構造図

ラインナップ

Package Package
Size
(mm)
Ball
Pitch
(mm)
Interposer Stack Package
Type
FBGA56 7×7.2×1.2 0.8 PI 2 WS-MCP
2Layer PCB
FBGA59 7×9.0×1.2 0.8 PI 2
2Layer PCB
FBGA61 9×9×1.4 0.8 PI 2
FBGA65 9×9×1.34 0.8 2Layer PCB 2
FBGA69 8×11×1.4 0.8 PI 2
FBGA71 7×12×1.2 0.8 PI 2
7×11×1.2
FBGA73 8×11.6×1.4 0.8 PI 2
8×11.6×1.34 2Layer PCB
FBGA85 10.4×10.8×1.3 0.8 2Layer PCB 3
FBGA101 11×12×1.34 0.8 2Layer PCB 2
FBGA103 10×9×1.4 0.8 4Layer PCB 4 FWS-MCP
FBGA107 9×10×1.4 0.8 4Layer PCB 3
4
FBGA115 9×12×1.4 0.8 4Layer PCB 3
4

熱抵抗

  • FBGA-69
θja (℃/W) θjc (℃/W)
0m/s 1m/s 3m/s 10
45 40 35

実装信頼性

FBGA69ピンの実装信頼性グラフ

Test Condition: -25℃(9min.)からR.T.(1min.)から125℃(9min.)
Board: FR-4(110mm ×110mm×0.80mm/4-layers)
Judgment: Open (Regular measurement)

落下・曲げ

  • FBGA-69
Test Item Condition Results
Bending Test Board Thickness = 0.8mm
Span = 90mm
Bending Speed = 80mm/min.
Over 15.0mm
Bending Cycle Test Board Thickness = 0.8mm
Span = 90mm
Distortion = 3mm
Bending Speed = 80mm/min.
6000 cycles Pass
Drop Test 1.0m/150g Drop
1 set=Horizontal Drop x 5 times
Over 5 sets
(25 cycles Pass)

テスト方法

  • 曲げテスト
曲げ
  • 落下テスト
落下

信頼性評価結果

  • FBGA-69
No. Test Item Condition Test Time
or Period
Results
1 High Temp. Storage 150℃ 1008 hrs. 0/25
2 Temperature Cycle(注) -65℃から150℃ 1000 cycles 0/105(注)
3 High Temp. Shock 0℃から100℃ 500 cycles 0/55
4 PTHS(注) 121℃、85% 504 hrs. 0/55(注)
5 PTHB 121℃、85% 144 hrs. 0/25
6 THB 85℃、85% 1008 hrs. 0/105

(注)は Pre-Conditioning: Baking 125℃、24hr+85℃/85%、20hr+IR 250℃ max.
      FBGA-69pin

推奨実装条件

SMDとNSMDの推奨実装条件
SMD
(solder-mask defined)
NSMD
(nonsolder-mask defined)
Pad Pattern Solder-mask
Opening
Pad Pattern Solder-mask
Opening
Stacked
-FBGA
φ0.55mm φ0.40mm φ0.30から
φ0.40mm
φ0.45から
φ0.50mm