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品質信頼性の保証

半導体デバイス製品の品質・信頼性を維持するために

品質と信頼性のためのサポート(3)

故障解析と徹底した原因追究

当社の各工場では工程での異常を監視するだけでなく、ウエーハのプロービング試験や完成品の最終試験の結果を監視し、そこで発生する不良品の故障解析を実施しています。そしてその結果は工程へとフィードバックします。また、お客様で発生する不具合を防止するためには、実際にお客様から返却いただいた不良品の解析結果が貴重なものとなります。その結果は直ちに関連部門へ報告し対策の立案を行います。
このような形で得られた解析の結果は、発生原因への改善だけでなく流出対策へも展開します。さらに同様なことが考えられるものへの横展開も実施します。

故障解析による原因の追究

故障解析による原因の追究

解析技術力向上への取組み

Nano-probeによるSRAM部への直接コンタクト

Nano-probeによるSRAM部への直接コンタクト

Gate部断面写真(90nm)

Gate部断面写真(90nm)


内部品質監査

各拠点ごとに、品質保証部門が主体となり定期的に以下の3種類の監査を行っております。

  • 品質マネジメントシステム(QMS)監査
    規格要求、当部門規定の要求、顧客要求、製品に関連する適用される法規制要求など、QMS要求事項への適合性および有効性の検証を目的に実施しています。
  • 製造プロセス監査
    製造工場ではコントロールプラン、工程フロー、作業標準、工程FMEAなどの文書に基づき、製造プロセスの有効性を検証することを目的に実施しています。
  • 製品監査
    製造および引渡しの適切な段階で、製品が要求事項を満たしていることを検証することを目的に実施しています。

第三者認証

品質マネジメントシステム第三者認証につきましては、当社ではISO9001はもちろん、自動車関係のISO/TS16949につきましても欧州車載顧客を対象に以下のように対応しております。

品質システム登録証

品質システム登録証

ISO9001:2000, ISO/TS16949:2002認証取得状況

工場名・事業所 取得規格 登録日 認証番号 認証機関
富士通セミコンダクター(株)
  あきる野テクノロジセンター
  三重工場
  会津若松工場
  岩手工場
ISO9001 2003年12月5日 JQA-QMA10719 JQA
富士通セミコンダクター(株)
  三重工場
  会津若松工場
  岩手工場
ISO/TS16949※ 2008年8月29日
2008年8月29日
2003年12月5日
JQA-AU0010-5
JQA-AU0010-4
JQA-AU0010-1
富士通インテグレーテッドマイクロテクノロジ(株)
  本社・会津工場
  宮城工場
  九州工場
ISO9001 2004年11月26日 JQA-QMA11777

※ 富士通インテグレーテッドマイクロテクノロジ(株)および富士通セミコンダクターテクノロジ(株)につきましても以下の通り,ISO/TS16949第三者認証の取得を予定しております。
・ 富士通インテグレーテッドマイクロテクノロジ(株)本社・会津工場/宮城工場:2008年度中
・ 富士通インテグレーテッドマイクロテクノロジ(株)九州工場:2009年度中
・ 富士通セミコンダクターテクノロジ(株):2009年度中