製造情報提供サービス「FF-eSERVE」

当社 ファウンドリサービスの一環として、製造情報提供サービスである「FF-eSERVE（エフエフ・イーサーブ）」をご利用頂けます。
当社はこのFF-eSERVEを通じて、お客様のビジネスに必要な 様々な種類のデータをご提供致します。また前工程のみならず、組立や最終試験までを含めた一貫した情報も取得頂けます。

ご提供可能なデータの種類

| 製造情報 | 品質情報 | 設計・技術情報 | 一般情報 |

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• Order Status
  お客様より頂いた発注情報に基づいて、お客様の発注日、発注数やご希望納期、それに対する当社の請納期や注残数など、現在のオーダーの状態をご確認頂けます。
• Shipping
  当社より出荷致しましたウェハやチップの出荷日、出荷枚数、良品数、ロット番号、ウェハ番号など、出荷に関する情報をご確認頂けます。また海外への発送時はフライトに関する情報もご提供致します。
• WIP
  現在仕掛かっているお客様のロット情報をご提供致します。仕掛枚数や仕掛工程位置、進捗率、ロットの投入日や完成予定日、ウェハ構成など、仕掛状況の把握に必要な情報をご確認頂けます。また当社の全工場の仕掛情報が30分間隔で更新されますので、よりリアルな情報のご提供が可能です。
• Lot History
  ロット投入から出荷までの、各工程へのインプット/アウトプットが一覧でご確認頂けます。
• MASK WIP
  マスク（レチクル）製造の仕掛情報をご提供致します。層名や現在の状況をご確認頂けます。

品質情報

• WAT Report
  ウェハのモニタ測定データをご提供致します。測定項目ごとにスペック、平均、最大、最小、標準偏差を持ち、各ウェハごとの座標の値をご確認頂けます。
• Wafer MAP
  ウェハソート試験の結果をウェハ形状（マップ）でご提供致します。各ウェハごとの歩留や、どの位置（チップ）が何の試験カテゴリで落ちたか（不良になったか）が一目でご確認頂けます。
• Bin Summary
  ウェハソート試験の結果をカテゴリ別に集計したデータをご提供致します。測定日時、試験工程、また外観試験での不良数もご確認頂けます。
• Easy Download
  複数のロットの品質情報を、ZIP圧縮でまとめてダウンロードして頂けます。
• SPC Report
  月別に最大6ヶ月集計されたモニタ測定データの平均、標準偏差、Cp、Cpkをグラフでご確認頂けます。

設計・技術情報

• Mask Layout Viewer
  Web画面上でレチクルのレイアウトを拡大・縮小・重ね合わせしたり、当社のエンジニアとお客様のエンジニア様で画面を同時共有し、文字を書き込んだりマーキングしたり出来るツールです。
• Technology doc. and IP Library
  テクノロジドキュメントをダウンロードしたり、IPマクロやライブラリをご提供するツールです。
• File Sharing
  お客様と当社でファイルを共有するツールです。フォルダを作成したり、自由にダウンロード/アップロードをして頂けます。お一人様200MBまでご利用頂けますが、ご希望により増量も可能です。

一般情報

• Factory Calendar
  当社の各工場の営業日カレンダーをご確認頂けます。（工場操業日ではなく、事務所の休日等をお知らせ致します）
• Environment
  環境の変更を行えます。日本語・英語環境の切り替えや、検索条件の保存設定、また異なるグループの切り替えなどが行えます。
• その他
  その他、パスワード変更やFAQ検索、操作マニュアルのPDFダウンロードが行えます。

ご提供方法とフォーマット

• 各情報のファイルダウンロード
  お客様のお好きな検索条件にもとづいて、全ての画面からデータをダウンロードして頂けます。
• SEMIフォーマットWaferMapのご提供
  SEMI.orgが半導体業界の国際標準として定めた「SEMIフォーマット」で、ウェハソート試験のウェハマップをご提供可能です。
• 出荷通知メールの配信
  当社から出荷されたロットの情報をご指定のメールアドレスへ配信致します。2時間おきに出荷のチェックを行い、お客様の注文番号、製品名、ロット番号、枚数、良品数、歩留等をお知らせ致します。
• 各種データのFTP転送
  FF-eSERVEが持つすべてのデータ種を、お客様ご指定のFTPサーバへご指定の時間に送信させて頂きます。お客様システムに取り込まれるなど、データ連携に関するサポートを行うことも可能です。