製品情報
FIB加工サービス
特性不良や回路変更によるCHIP作り直しが必要な方へ
「回路変更でウェハーを作り直し？ でも早く結果が知りたい。」
「思った特性が出ず、特性の修正確認を直ぐに行いたい!」
「ウェハーの作り直しをしている時間がない!」
そんなLSI開発でお困りの方に、富士通VLSIの専門チームがご支援致します。
サービス内容
FIBとは、Focused Ion Beamの略で、細かく絞ったIon Beamを用いて高分解能観察、微小領域エッチング、金属薄膜形成を行えます。
| 概要 | FIBを使った金属配線の切断、再配線 サービスの流れFIB装置の機能詳細 |
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| 営業品目 |
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| 実績と強み |
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