富士通株式会社での長年の信頼性評価/故障解析 の経験によって培われた技術とノウハウを元に、部品・モジュール類の信頼性評価 を受託いたします。
試験条件、試料への電圧印加、連続監視等 様々なご要求にも柔軟に対応可能 ですので、ご相談ください。
また、どのような信頼性評価が有効かという 品質コンサルティング、及び、良品解析による 寿命推定、障害率予測、製造精度の検証 も行っておりますので、合わせてご相談ください。
各種環境試験槽、検査・測定装置がございます。
試験単価を公開しております。
また、いくつかの試験につきましては、お見積り例も公開しております。
ご希望の条件で試験可能かどうか、試験条件を お問合せページ からご連絡ください。
JIS(日本工業規格)、EIAJ(日本電子機械工業会規格)、IEC(国際電気標準会議)、MIL(米軍規格)、当社の経験による独自規格などがあります。
スルホールの銅が、ガラスに沿って析出
(断面観察結果)

半田ボールの消失(X線観察結果)

低品質電解液要因による短寿命
