分析料金事例
内容別
| 内容 | 料金（千円） |
|---|---|
| はんだ接合部の断面観察,元素マップ分析（埋め込み研磨,SEM,EPMA） | 120～ |
| 無機・有機複合付着異物分析（SEM,EPMA,FT-IR） | 85～ |
| 有機樹脂中の無機フィラーの分析（TG/DTA,SEM,EPMA） | 65～ |
| 表面元素組成と結合状態解析からの変色や剥離原因の調査（XPS） | 65～ |
| 断面作製と線分析による多層構造（拡散等）の調査（FIB,AES） | 155～ |
| 多層膜中の相互拡散状態の評価（AES 0.2μmまで） | 40～ |
| 各種シリコンデバイス断面のTEM観察（写真2枚まで: ～150万倍） | 190～ |
| プラスチック（ゴム,接着剤含む）からの発生ガス分析 | 90～ |
| 樹脂中のハロゲン系難燃剤の定量（全Cl,Br量測定） | 36～ |
方法別
| 分析機器 | 内容 | 料金（千円） |
|---|---|---|
| FE-SEM観察 | 10万倍．導電処理，前処理含む | 65 |
| TEM観察 | シリコン実デバイス，FIB法による断面，写真：～150万倍 | 190 |
| FIB加工・SIM観察 | 加工幅25μm，SIM写真1視野 | 75 |
| AFM観察 | 観察と解析（粗さ情報，ヒストグラム，高低分布など） | 50 |
| XRF分析 | 標準感度法による半定量分析 | 15 |
| EPMA分析 | 定性分析と5元素までのカラーマッピング．前処理含む | 110 |
| オージェ分析 | C,Oを含む5元素の 0.2μmまでの深さ方向分布分析 | 40 |
| XPS分析 | 表面元素の同定，Cを含む4元素の状態測定・解析 | 65 |
| FT-IR分析 | 顕微赤外法による測定と同定・解析 | 40 |
| GC-MS分析 | TCT法による測定と同定・解析（5成分），抽出処理含む | 110 |
| 熱重量変化分析 | 室温～＋500度 | 20 |
| 硬さ試験 | 5ポイントの平均値／1試料 | 5 |
| ICP発光分析 | 2試料，各5元素の定量．前処理含む | 95 |
| イオンクロマト分析 | 1試料，7種のアニオンの定量．前処理含む | 80 |
| エコチェッカ分析 | 環境診断含む（1～5個） | 50 |
| 用紙分析 | 濾紙採取による粉塵濃度（5ポイント），ICによるガス濃度 | 90 |